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测试仪表校验龙岩-校准公司
发布用户:styqjcgs
发布时间:2024-05-17 01:58:39
测试仪表校验龙岩-校准公司测试仪表校验校准公司
测试仪表校验校准公司我们选用的PLC为台达公司的DVP32EH,附加8路AD和DA模块,使用Delta_ WPLSoft_ V2.33软件编写PLC控制程序,程序内容包括PLC对高低温试验装置各个组件例如抽气泵、阀门、加热关等的逻辑控制,数据的读出和写人以及其他相关功能。
本系统具备CW信号、通用矢量信号模拟和分析;具备NPSS、NSSS、NPBCNPDCCNPDSCH等NB-IOT物理信道分析解调;、34G等标准通信信号解析等功能。可以目前行业急需的NB-IOT物联信号模拟功能,支持用户的数据导入,各种同步方式,验证物联设备的接收性能;同时系统支持当前各种NB-IOT物联信号多域解析测试,解决目前行业各种NB-IOT物联信号进行合格性判别和验证难题。
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3、传感器的仪器校准实验
(1) 仪器校准实验过程
传感器的校准实验是为了测试高温微压力传感器在不同温度环境下,尤其是在高温环境下能否保持较高的测量精度和重复性,进而根据实验数据对传感器进行仪器校准,使得传感器能够在温度变化的环境下保持较高的测量精度和测量重复性。
仪器校准实验按照校准原理可分为以下环节:①测试传感器在不同温度下的压力敏感性能;②测试传感器输出与环境温度之间的关系,并以此对传感器进行校准,对温度的影响作出补偿;③压力、温度复合加载试验,测试校准后的传感器能否满足实际的应用需求。
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嵌入式设计人员之所以采用MSO,是因为它从能够查看2个或4个信号,扩展到能够查看 多20个信号,而不必求助于 的工具——逻辑分析仪。尽管这种通道数量长期来一直被市场广泛接受,但这是不是仍适合当今的嵌入式系统呢?对示波器商和嵌入式系统设计人员来说,这是一个值得思考的问题。商必需知道其的是不是客户实际需要的、愿意付费购的测试功能。设计人员则需要适合作业的工具。对这一问题的思考,推动了多个科研项目的实施,来自世界各地的嵌入式系统工程师正更加深入地考察示波器通道数量问题。
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如果不符合要求则需要重新校准,结果仍不理想则表明传感器自身存在缺陷,需要进一步优化设计。
由上述可知,传感器的校准需要大量的实验,受篇幅所限在此不多赘述,故这里只测试传感器在不同温度下的压力敏感性能,目的是验证该仪器校准实验系统是否达到期望的使用要求。
(2) 实验结果
调节载荷室温度至30℃,保持温度恒定的同时逐步增大压力,记录反射光波长,反复测量3次;提高载荷室腔内温度至250℃,重复上述实验。实验数据如表1所示。
经过计算,在30℃温度环境下,传感器非线性为1.77%,重复性为1.31%,综合精度为3.07%;而在250℃高温环境下,传感器非线性为3.05%,重复性为2.07,综合精度为5.12%。以上结果表明,温度升高对实验传感器的输出有较明显的影响,整体性能也有所降低。此外,通过此次仪器校准实验,很好地验证了该校准实验系统的使用性能,在实验过程中,载荷室内温度能长时间稳定在设定值±2℃的范围内,压力调节方便可靠,能较快地达到设定气压值,并稳定在设定值10.2Pa的范围内。
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直线度公差指单一实际直线允许的变动全量。用于控制平面或空间直线的形状误差,其公差带根据不同的情况有几种不同的形式。直线度的测量自动测量能给工作人员准确的信息,保证轧材符合标准。光电法测量光电法测量是以三台测径仪为基础进行检测的,可以用于测量运动中的线、棒、管的外轮廓的直线度。布置上图的的设备3台,三台设备同一时刻测量被测工件的位置数据左边和右边两台采集的位置连线,计算出中间设备的在直线度为0时的理论位置,与中间一台所获的的位置数据比较,差值即为被测工件在当前位置的直线偏差如下图所示。
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综上所述,该仪器校准实验系统使此次校准实验进行顺利,很好地满足了实际需求,达到了设计要求。
4、结束语
通过分析高温光纤微压力传感器的测量结构和仪器校准原理,设计了一套基于高低温试验装置和上位机人机软件的校准实验系统,在地面实验室模拟了传感器实际测压环境,实现了传感器在高温微小压力环境下的校准。实验结果表明,该仪器校准实验系统能很好地满足测试需求,是一个稳定可靠、安全便捷的测试,为下一步传感器的仪器校准工作了保障。
测试仪表校验龙岩-校准公司数显仪表被测参数大多被转换成微弱的低电平电压信号,并经长距离传送到数显表,因此除有用的信号外,还会有些干扰信号夹杂其中,会影响数显仪表测量结果的正确性。干扰源在仪表内、外部都有可能存在。如在数显表外部,大功率用电设备、电网可能成为干扰源。而在数显表内部,变压器、线圈、继电器、电源线等可能成为干扰源。数显仪表产生干扰的途径信号源与仪表之间的导线、内部配线通过磁耦合在电路中形成干扰。在大功率变压器、交流电机、电力线的周围空间都存在有很强的交流磁场,而闭合回路处在这种变化的磁场中将产生电动势。
测试仪表校验龙岩-校准公司数显仪表被测参数大多被转换成微弱的低电平电压信号,并经长距离传送到数显表,因此除有用的信号外,还会有些干扰信号夹杂其中,会影响数显仪表测量结果的正确性。干扰源在仪表内、外部都有可能存在。如在数显表外部,大功率用电设备、电网可能成为干扰源。而在数显表内部,变压器、线圈、继电器、电源线等可能成为干扰源。数显仪表产生干扰的途径信号源与仪表之间的导线、内部配线通过磁耦合在电路中形成干扰。在大功率变压器、交流电机、电力线的周围空间都存在有很强的交流磁场,而闭合回路处在这种变化的磁场中将产生电动势。
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